14.03.22 – Prüfgerät

Verbesserte Phased-Array-Prüfung

Das „Omniscan X3“ ist ein neues Prüfgerät von Olympus, das mit 64 Kanälen die Möglichkeit bietet, bis zu 64 Prüfkopfelemente gleichzeitig anzusteuern und so die Datenerfassungsgeschwindigkeit für die TFM-Bildgebung zu erhöhen: Das Gerät kann viermal schneller als sein Vorgänger TFM-Bilder verarbeiten.

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Das neue „Omniscan X3“-Prüfgerät von Olympus kann bis zu 64 Prüfkopfelemente zeitgleich ansteuern. © Olympus

 

Dank des integrierten Speichers von 1 TB können Prüfer länger vor Ort arbeiten und umfassendere Prüfaufträge ausführen, ohne Daten übertragen zu müssen. Um die Prüfung komplexer, dickerer Bauteile oder Schweißanwendungen zu erleichtern, gestattet die volle 64-Elemente-Apertur mit PA und 128-Elemente-Apertur mit TFM des Gerätes die Optimierung der erweiterten DLA- und DMA-Sensoren. Dass alle Modelle der Omniscan-X3-Serie über eine integrierte DLA- und DMA-Unterstützung verfügen, spart Zeit bei Einstellungen. Kleinere Fehler lassen sich mit der hochauflösenden PA- und TFM-Bildgebung des Prüfgerätes nun leichter unterscheiden.

Das Omniscan X3 64 ist für Sensoren mit niedrigeren Frequenzen geeignet. Es kann die Durchdringung von schalldämpfenden Materialien erhöhen und gleichzeitig die Signalsättigung reduzieren. Diese verbesserten Erkennungsfunktionen unterstützen die Überwachung von Fehlern im Frühstadium wie die Wasserstoffversprödung bei hohen Temperaturen.

Für Anwendungen, die eine erweiterte Analyse erfordern, kann der gesamte PA-Prüfablauf mit der „Weldsight“-Software von Olympus ausgeführt werden. Via „Weldsight Remote Connect“ App, die auf dem Omniscan X3 64 installiert ist, können Bediener die erfassten Daten auf einem PC anzeigen und die anpassbare Benutzeroberfläche sowie Softwarefunktionen nutzen, die spezielle Prüfverfahren erleichtern. Das kompakte Omniscan X3 wird in einem robusten Behältnis geliefert.

Olympus Europa SE & Co. KG

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